Testadapter für QSeven- und MXM-Embedded-Module

Besonders zuverlässig und bedienerfreundlich

Stutensee – Ein neuartiges, von Yamaichi vor allem für den Test und die Programmierung von QSeven- und MXM-Embedded-Modulen entwickelte Adaptersystem ist ab sofort bei MSC erhältlich. Der Testadapter ermöglicht eine besonders zuverlässige und robuste Kontaktierung des Moduls mit Probe-Pins, welche auch für Kontaktierungen im Halbleitertest verwendet werden können. Der Adapter kann nach Kundenvorgaben beziehungsweise Qseven-Standard impendanzkontrolliert aufgebaut werden.

Herzstück des Testadapters ist eine Multilayer Flex/Rigid-PCB, welche die Verbindung der Probe-Pins und Steckverbinder auf der Testleiterplatte darstellt. Der impedanzkontrollierte Aufbau der Flex/Rigid-PCB sichert die hohe Güte von laufzeitkritischen Signalen. 

Das einzigartige Testsystem wird in der Kundenanwendung auf die Testleiterplatte montiert. Die Schnittstelle zwischen Testadapter und Testleiterplatte bildet dabei der durch Yamaichi bekannte BEC-Connector, wobei die Kompatibilität zum MXM-Connector berücksichtigt wurde. Der Prüfling, das Qseven- oder MXM-Modul, wird in den Testadapter gesteckt und über die Test- oder Programmierdauer gehalten. 

Durch den Einsatz von High-Performance Probe-Pins, die auch zum Test von Halbleiter-ICs verwendet werden, ist eine sichere und zuverlässige Kontaktierung gewährleistet. Dabei übersteigt die Zyklenzahl des Testadapters die des Connectors um ein Vielfaches. Die Module werden mit den Probe-Pins gleichzeitig auf beiden Seiten mit 230 Pins und einem Pitch von 0,5mm kontaktiert. Aber auch andere Pinabstände und Konfigurationen sind realisierbar. 

Anwendung findet der Testadapter unter anderem im Labor zur Qualifizierung und Evaluierung, im Produktionsumfeld direkt nach der Bestückung zur Überprüfung der Funktionalität, in der Qualitätssicherung mit Temperaturzyklen bis +85°C und für die Programmierung der Module. 

Ausführliche Informationen können unter pemco@msc-ge.com angefordert werden.